Патентный поиск

Открытые базы данных для проведения патентного поиска

Необходимым условием патентоспособности технического решения, относящегося к продукту (в частности, устройству, веществу, штамму микроорганизма, культуре клеток растений или животных) или способу (процессу осуществления действий над материальным объектом с помощью материальных средств), в том числе к применению продукта или способа по определенному назначению, является новизна.

Новизна определяется из уровня техники, который, как правило, включает любые сведения, ставшие общедоступными в мире до раскрытия сведений о сущности технического решения.

Поэтому уже на стадии разработки проекта поисковой/прикладной НИР и/или ОКР и ТР для изучения уровня техники, а также технического уровня конкретных объектов техники проводятся патентные исследования, которые основаны на результатах патентного поиска. В соответствии с действующими Гостами, патентные исследования относятся к прикладным НИР.

Основными открытыми (бесплатными) ресурсами для проведения патентного поиска с целью изучения уровня техники являются:

  1. Федеральный институт промышленной собственности (ФИПС/РОСПАТЕНТ, российское патентное ведомство) 

Бесплатный доступ (ограниченный набор баз данных) открыт к следующим базам данных по объектам интеллектуальной собственности, зарегистрированным в России:

  1. Евразийское патентное ведомство (ЕАПО, EAPO) (ЕПАТИС)

ЕАПО создано с целью предоставление правовой охраны изобретениям на основе единого евразийского патента, действующего на территории всех государств - участников Конвенции (Азербайджанская Республика, Республика Армения, Республика Беларусь, Республика Казахстан, Кыргызская Республика, Российская Федерация, Республика Таджикистан, Туркменистан)

  1. Всемирная организация интеллектуальной собственности (ВОИС, WIPO) 
  2. Патентное ведомство США (USPTO) 
  3. Европейское патентное ведомство (ЕПВ, EPO); патентная служба esp@cenet (Espacenet) 
  4. Патентное ведомство Китая (SIPO)
  5. Патентное ведомство Японии (JPO) 
Полный список сайтов патентных ведомств и международных организаций доступен по ссылке