Фотоэлектроника

Способ импульсного термоэлектрического неразрушающего контроля теплофизических свойств металлов и полупроводников

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и может быть использовано для контроля изменения теплофизических свойств контролируемых объектов из металлических материалов и полупроводников в результате термомеханической обработки или эксплуатационного воздействия. Предложен метод термоэлектрического неразрушающего контроля теплофизических свойств токопроводящих материалов, предусматривающий замену нагрева контролируемого объекта горячим электродом на его нагрев в заданной области импульсным лазерным излучением. Причем для измерения термоЭДС используют только холодный электрод, который устанавливают на заданном расстоянии от места лазерного излучения. При этом теплофизические свойства контролируемого объекта определяют путем сопоставления полученного термоЭДС с известным значением термоЭДС эталонного образца с известными теплофизическими свойствами. Технический результат — повышение точности, надежности и информативности метода термоэлектрического неразрушающего контроля теплофизических свойств токопроводящих материалов.

Лазерный спектрометр магнитного резонанса

Использование: для спектроскопии магнитного резонанса. Сущность изобретения заключается в том, что лазерный спектрометр магнитного резонанса для исследования свойств веществ, не возмущенных процедурой измерения, содержит лазерный источник света, входной поляризационный элемент, через который свет от лазерного источника проходит на образец, размещенный в магните, поляризационный элемент регистрации, через который вторичное излучение от образца проходит на оптический детектор, устройство регистрации спектра и тракт высокой частоты, при этом тракт высокой частоты расположен между оптическим детектором и устройством регистрации спектра. Технический результат: обеспечение возможности исследования магнитных свойств веществ, не возмущенных процедурой измерения.